藍寶石作為一種重要的光學材料，已被廣泛地應用于科學技術(shù)、國防與民用工業(yè)等眾多領(lǐng)域。由于藍寶石晶體具有獨特的機械加工特性，采用IC晶片加工的精密磨削和拋光技術(shù)，能夠獲得超精密納米尺寸精度的襯底晶片，已被廣泛地應用于科學技術(shù)、國防與民用工業(yè)、電子技術(shù)等眾多領(lǐng)域。LED芯片作為藍寶石襯底晶片的第一大應用領(lǐng)域，藍寶石襯底晶片已被廣泛應用于LED照明行業(yè)，對藍寶石行業(yè)的發(fā)展有著重要的影響。

使用蘇州精創(chuàng)光學儀器有限公司研發(fā)制造的應力儀檢測藍寶石晶錠可以觀察到錐光圖。錐光圖由黑十字和同心圓狀的干涉色圈組成,干涉色圈以黑十字交點為中心(光軸出露點),成同心環(huán)狀,干涉色圈的多少,取決于晶體的雙折射率的大小及厚度。當晶體局部規(guī)則的結(jié)構(gòu)被破壞,產(chǎn)生的應力使得該位置上的光軸方向發(fā)生改變,光束通過此位置時,所得到的錐光圖中的黑十字變形,因此可以通過觀察晶體各個位置的錐光圖來檢測晶體的應力。

晶錠內(nèi)部存在不同程度應力時錐光圖如圖2所示。